OPTEK X-RAY層偏量測機目前已搭配世界最先進的X射線和測量系統，它可以量測及檢視内層特性的位置，例如：多層印刷電路闆的内層基準點，在層壓過程中之漲縮偏移性，以及層壓的質量特性等。

藉由内視影像及量測，可顯示出偏移、傾斜、延長、收縮及歪曲之位置及數據，可提供組裝制程序如：層壓、制模、鑽孔及尺寸設定之控制與改善。

1. 量測範圍 --  X 軸 － 28" (700 mm), Y 軸 － 24" (600 mm), Z 軸 － 8" (200 mm).

2. 平臺材質 --  花崗岩平臺及花崗岩龍門.

3. X/Y軸驅動方式 --  線性馬達 (Linear Motors) + 柱形軸承 + 氣浮軸承 (Air Bearings).

4. X/Y軸移動方式 --  遊戲杆 (Joystick) + 微調滑球 (Trackball).

5. X/Y 軸移動速度 --  30" (760 mm)/sec. Max.

6. 光學尺分辨率 --  0.0001 mm (X/Y/Z). 

7. 量測功能 --  點、線 (線寬,線距)、圓 (圓心坐标、半徑、直徑)、圓弧、距離、開口槽寬、角度、槽形、不規則形等等之幾何量測.   量測步驟均可Repeat.

8. 程序可編輯、修改、插入、删除.

9. 可設定量測公差值，做 Pass 或 Fail 判定.

10. 全臺面 (量測範圍) NLEC 非線性誤差補償